Halvleder/IC

NGI leverer modne testløsninger til halvlederproducenternes behov. Med hensyn til testnøjagtighed og effektivitet er NGI-instrumenter ret konkurrencedygtige, med service af høj kvalitet og høj omkostningsydelse.

Testobjekter: IC-chip, diode, triode, MOS-rør, tyristor osv.

Testpunkter: tændspændingstest, overstrømsevnetest, ældningstest, elektrisk lækagetest, nedbrudstest.

• Halvleder monomer test

• IC chip test