N61100 serien multikanal programmerbar dc elektronisk belastning

N61100 DC Electronic Load(150W~900W,2CH/4CH/6CH/12CH)

N61100 DC Electronic Load(150W~900W,2CH/4CH/6CH/12CH)

N61100-serien er en flerkanals DC-programmerbar elektronisk belastning med høj pålidelighed, høj integration, høj omkostningsydelse og alle funktioner. Den er skræddersyet til integrerede applikationer, med høj kommunikationsresponshastighed og høj stabilitet. N61100-serien er med 19-tommer 3U-størrelse, op til 12 kanaler og understøtter LAN-, RS232- og RS485-kommunikationsgrænseflader. I de fleste integrerede applikationer kan N61100-serien erstatte selvstændige elektroniske belastninger med lav effekt og spare mange omkostninger for brugerne.

Forespørgsel

Hovedtræk

●Voltage range: 0~80V/0~150V/0~600V

●Strømområde: 0~120A

●Høj integration, enkelt enhed op til 12 kanaler

●Dobbelt måleområde for CC, CV, CP, CR mode

●8 slags testtilstand: CC，CV，CR，CP，CV+CC，CV+CR，CR+CC，CP+CC

● Belastningseffekttest, dynamisk sweep, tidsmåling, afladningstest

● Understøtter LED-lyssimuleringsfunktion

●OCP/OVP/OPP testtilstand

● Sekvens(SEQ) test, autotest, Von/Voff, kortslutningssimulering

●Kommunikationsgrænseflader: LAN, RS232, RS485

Anvendelsesområder

● Lav strømforsyningstest, såsom AC/DC-strøm, DC/DC-konverter, LED-strøm, kommunikationsstrøm osv.

●Test af ledningsnet, stik, sikring, relæ, BEC (Bussed Electrical Center)

●Afladningstest af lithiumbatteri, lagerbatteri mv.

Funktioner og fordele

Ultrahøj integration, enkelt enhed med op til 12 kanaler

N61100-serien DC elektronisk belastning understøtter op til 12 kanaler i en enkelt enhed. Hver kanal er elektrisk isoleret. Den kan styres separat og kan også styres op til 120 kanaler på samme tid. Den ultrahøje integration i multi-kanal batch test systemapplikationer reducerer testomkostninger og instrumentbesættelse for brugerne. Kombineret med op til 5ms tilbagelæsningshastighed kan testeffektiviteten forbedres betydeligt.

enkelt enhed med op til 12 kanaler

Flere driftstilstande

N61100-serien understøtter ikke kun fire grundlæggende tilstande CC, CV, CP og CR, men understøtter også fire kombinerede arbejdstilstande CV+CC, CR+CC, CV+CR, CP+CC. CR+CC-tilstand, den er velegnet til starttest af kilden, hvilket forhindrer overstrømsbeskyttelse under tænding. CV+CR-tilstand kan erstatte Von-funktionen. CV+CC-tilstand kan simulere arbejdstilstandskonverteringsprocessen for batteriopladning. Brugere kan vælge forskellige driftstilstande i henhold til deres testapplikation.

flere driftstilstande

LED-lyssimulering for at teste LED-drivkraft

Den elektroniske belastning har LED-lyssimuleringsfunktion. Som vist på figuren skal LED-ækvivalentkredsløbet forbinde modstanden Rd med spændingskilden Vf i serie. Dens IV-kurve svarer til tangenten af den reelle LED ikke-lineære IV-kurve ved driftspunktet (Vo, Io).

LED lys simulering

Under LED-tilstand skal brugere indstille tre parametre for at simulere reel LED-lysbelastningstilstand, herunder den nominelle udgangsstrøm for LED-drivkraft, LED-driftsspænding og modstandskoefficient.

OCP (overstrømsbeskyttelse) test

Under OCP-testen vil N61100 indlæse under CC-tilstand og kontrollere, om DUT-spændingen er lavere end slutspændingen. Hvis lavere, vil N61100 registrere den aktuelle belastningsstrøm som testresultat og lukke indgangen for at stoppe testen. Hvis DUT-spændingen er højere end slutspændingen, vil N61100 øge belastningsstrømmen, indtil DUT-spændingen er lavere end slutspændingen, eller den når Max. belastningsstrøm.

OCP (overstrømsbeskyttelse) test